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晶圓表面形貌量測系統 參考價： ￥3000000

半導體晶圓wafer厚度測量設備 參考價： ￥3000000

無圖晶圓幾何量測系統 參考價： ￥3000000

晶圓厚度翹曲度量測系統 參考價： ￥3000000

晶圓幾何參數測量設備 參考價： ￥3000000

晶圓表面形貌高效測量分析系統 參考價： ￥3000000

晶圓硅片厚度測量儀 參考價： ￥3000000

晶圓硅片表面3D量測系統 參考價： ￥3000000

晶圓制程幾何尺寸量測設備 參考價： ￥3000000

半導體晶圓幾何形貌量測設備 參考價： ￥3000000

晶圓表面粗糙度測量儀器 參考價： ￥3000000

半導體晶圓量測設備 參考價： ￥3000000

晶圓幾何形貌測量及參數自動檢測機 參考價： ￥3000000

無圖晶圓厚度翹曲度測量設備 參考價： ￥3000000

晶圓厚度翹曲度測量系統 參考價： ￥3000000

晶圓多維度特征檢測設備 參考價： ￥3000000

半導體晶圓厚度高精度測量系統 參考價： ￥3000000

晶圓厚度表面粗糙度微納三維形貌量測系統 參考價： 面議

半導體晶圓粗糙度翹曲度檢測設備 參考價： 面議

國產半導體晶圓表面形貌測量系統 參考價： 面議

晶圓厚度翹曲度粗糙度檢測設備 參考價： 面議

半導體晶圓Warp翹曲度量測設備 參考價： 面議

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